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OMRON形状测量传感器E3ZR-CT81L-M1TJ

OMRON形状测量传感器E3ZR-CT81L-M1TJ

简要描述:OMRON形状测量传感器E3ZR-CT81L-M1TJ
而配置高高斯透镜探头的ZG2-WDS3VT课解决该问题。
如果稍有倾斜,光反射量就会骤减,导致测量变得不稳定。
与检测镜头与玻璃板等的组装。

产品型号:

所属分类:OMRON传感器

更新时间:2024-03-12

厂商性质:经销商

详情介绍


OMRON形状测量传感器E3ZR-CT81L-M1TJ
轻松且准确地再现形状轮廓。
可根据周围照明环境自动调节感光灵敏度和背景消除水平等参数,
配备的APS功能, 实现高精度测量。
同时存在黑色和金属面的检测物体。
而配置高高斯透镜探头的ZG2-WDS3VT课解决该问题。
如果稍有倾斜,光反射量就会骤减,导致测量变得不稳定。
与检测镜头与玻璃板等的组装。
※详情请参阅APS功能(P9)、新光学系统ONPS(P8)。
对于反光面和透明物体等正反射较强的测量对象,
稳定测量难以检测的颜色、材质与复杂形状
更简单,更高精度的形状测量。
因此很难清晰且稳定地再现轮廓。
较暗涂层面和黑色橡胶等难以反射光线,
欧姆龙*“多灵敏度感应功能"在解决上述问题中颇受好评,
倾斜对应范围比此前型号扩大2.5倍,
通过检测基板与封装面的高低差,完成零件的组装检测。
安装简便。只需要安装传感器探头与控制器,即可投入
构造简单 从而一举解决该难题。
这些检测对象的位置不同,其激光反射量、反射监督也存在差异,
可在大±5°倾斜范围内实现稳定测量。
此外,段曝光时间下也可进行测量,从而对应移动物体的检测。
可稳定测量CCD及CMOS、
因此即便是在高速线上也能本产品。
其颜色、材质使传感器探头受光量不足,
圆柱形和形状复杂的物体。
电子零件的组装检测
且该功能变得更为强大。作为改进课题之一的测量速度已得到提高,
易受到外部光线的干扰,
因此以往的激光测量床干起难以测量此类物体。
而ZG2具有超高灵敏度,能*减轻外部光线的干扰,
水晶振动元件的水晶片等的玻璃及表面反光零件。
OMRON形状测量传感器E3ZR-CT81L-M1TJ




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